Вимірювальний стенд для дослідження  впливу неоднорідної деформації  на компоненти біполярних ІМС

Максим Олегович Зилевич

doi:10.64915/pfqwfw89

Т. 2 · № 1 · 2019 лют 28, 2019 Електронні системи та сигнали

Вимірювальний стенд для дослідження впливу неоднорідної деформації на компоненти біполярних ІМС

МЗ

Максим Олегович Зилевич Відповідальний Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського» zila@meta.ua Україна

Сторінки21-25 Опублікованолют 28, 2019 ЛіцензіяВідкритий доступ

pdf

ЕАІ 1 VOL 2 · 1

VOL 2 · NO 1 · 2019 Переглянути випуск

Анотація

У роботі спроектовано стенд для дослідження впливу неоднорідної деформації на компоненти біпо лярних ІМС. Даний стенд призначений для вимірювання опору кремнієвих резисторів, вольт-амперних характеристик діодів та транзисторів під дією відомої неоднорідної деформації з відображенням отриманої інформації на екран персонального комп’ютера для подальшої обробки. Стенд дозволяє регулювати тиск у широкому діапазоні та є універсальним для вимірювання електричних характеристик різних компонентів мікросхем.

Ключові слова

#деформація #тиск #вольт-амперна характеристика #опір #деламінація

Посилання

Hnatek E. R. "Integrated Circuit Quality and Reliability," New York, Marcel Deker., 1995. URL: http://catcut.net/qX7A
Levin M., Kala T. 1"Improving product reliability," California, Wiley., 2003. ISBN: 978-0-470-86449-4
Vorobyov D. V. "Harakteristiki ta dzherela mehanIchnih vplivIv na radIoelektronnI zasobi," Molodiy vcheniy. no. 19. pp. 182-185, 2014. URL: https://moluch.ru/archive/78/13692/
Lee Y. C."Micro- and Opto- Electronic Materials and Structures," California, Springer., 2007. URL: https://www.springer.com/us/book/9780387279749
Kochemirovskiy V. A. "Defekti kristalIchnoYi strukturi napIvprovIdnikovih materIalIv," VidavnichIy dIm SPGU., 2013. URL: goo.gl/P7pCgF
Polyakova A. L. "DeformatsIya napIvprovIdnikIv I napIvprovIdnikovih pristroyiv," Moskva, EnergIya., 1979. URL: https://www.twirpx.com/file/560929/
Brotherton S. D. "Introduction to Thin Film Transistors: Physics and Technology of TFTs," Switzerland, Springer., 2013. URL: http://haa.su/FZv/
Rudolf F. G. "Modern Dictionary of Electronics," Melborne, Newnes., 1999. URL: goo.gl/cYTqAp
Metod Kelvina [Online], Avalible:http://shemabook.ru/kelvina-4-provodnoy-izmereniya-soprotivleniya. [Accessed: 09-Feb-2019].
Widmann D. "Technology of Integrated Circuits," Berlin, Springer., 2000. URL: goo.gl/vXaxhs

Ліцензія

CCBY-NC 4.0

Creative Commons Із зазначенням авторства 4.0 Міжнародна

Ця робота має відкриту ліцензію: вільно поширюйте та адаптуйте її, посилаючись на авторів і журнал. Умови ліцензії ↗

Попередня у випуску Оцінка розбірливості мови за коефіцієнтом міжвушної кореляції мовного сигналу Наступна у випуску Аналіз термічної втоми в’язкопластичного припою для мікроелектронних компонентів і систем

§ 06 — Пов'язані

Схожі статті в цьому журналі

Пов'язані рецензовані дослідження, опубліковані в цьому журналі.

Усі випуски

Застосування оракульного концептування при програмуванні дизайну електронних мікросхем

Максим Олегович Зилевіч

У роботі запропоновано розширення принципів адаптивного середовища програмування на основі дослідження інтерсуб’єктивної парадигми шляхом розв’язання програмістських…

#метод #синтез #інтерсуб’єктивна парадигма #оракул

p. 227740-1 - 227740-5

Аналіз нелінійної системи overdrive

Даниїл Володимирович Грищук

У статті визначена можливість використання програм MATLAB та Reaper для аналізу нелінійних систем типу overdrive, на прикладі педалі звукового ефекту Ibanez tube…

#overdrive #частота основного тону #гітарний сигнал #додаткові форманти

p. 227832-1 - 227832-3

Прилад для дослідження транспорту кисню в капілярах

Марія С. Молебна

В роботі досліджується можливість візуалізації процесу передачі кисню тканинам організму через механізм капілярів. Запропоновано застосувати принцип оксиметрії на…

#оксиметрія #капіляроскопія #капілярна оксиметрія #просторово роздільна оксиметрія

p. 228255-1 - 228255-6

Схожі статті

Дмитро Вікторович Гуменюк, Установка для автоматизованого вимірювання вольт-амперних характеристик , Електронна та Акустична Інженерія: Том 2 № 4 (2019)
Кирило Євгенович Балашов, Владислав А. Клименко, Людмила Миколаївна Шмирова, Сергій Васильович Мамикін, Теяна Вікторівна Семікіна, Дослідження п’єзофототронного ефекту в плівкових структурах А2В6 , Електронна та Акустична Інженерія: Том 3 № 3 (2020)
Дмитро Вікторович Гуменюк, Автоматизована система визначення параметрів моделі сонячних елементів , Електронна та Акустична Інженерія: Том 2 № 3 (2019)
Ольга Володимирівна Андрієнко, Ігор Михайлович Дрозд, Анатолій Іванович Кузьмічєв, Газорозрядні системи атмосферного тиску для біомедичних застосувань , Електронна та Акустична Інженерія: Том 3 № 3 (2020)
Катерина Вікторівна Мірошник, Олег Миколайович Бевза, Використання енергії кроку людини як альтернативного джерела енергії , Електронна та Акустична Інженерія: Том 3 № 3 (2020)
Олег Ярославович Ігнатюшенко, Тестування контролера знаходження точки максимальної потужності сонячної батареї , Електронна та Акустична Інженерія: Том 3 № 4 (2020)
Станіслав В. Кудлай, Алгебраїчна характеристика класу матричних перетворень та її апаратна реалізація , Електронна та Акустична Інженерія: Том 4 № 2 (2021)
Анна Олексіївна Пелих, В. В. Гаврилюк, Підвищення ефективності використання електромагнітної індукції , Електронна та Акустична Інженерія: Том 3 № 4 (2020)
Андрій Віталійович Козак, Пилип Миколайович Ларін, Роман Юрійович Костюк, Олексій Володимирович Коржик, Імітаційне моделювання вимірювача інтенсивності звуку в задачах шумопеленгування , Електронна та Акустична Інженерія: Том 1 № 1 (2018)
Миколи Олександровича Корчака, Розробка нового підходу проектування інтегральних сенсорів струму , Електронна та Акустична Інженерія: Том 3 № 2 (2020)

1-10 з 40 Наступне

Ви також можете розпочати розширений пошук схожих статей для цієї статті.

[1] Hnatek E. R. "Integrated Circuit Quality and Reliability," New York, Marcel Deker., 1995. URL: http://catcut.net/qX7A

[2] Levin M., Kala T. 1"Improving product reliability," California, Wiley., 2003. ISBN: 978-0-470-86449-4

[3] Vorobyov D. V. "Harakteristiki ta dzherela mehanIchnih vplivIv na radIoelektronnI zasobi," Molodiy vcheniy. no. 19. pp. 182-185, 2014. URL: https://moluch.ru/archive/78/13692/

[4] Lee Y. C."Micro- and Opto- Electronic Materials and Structures," California, Springer., 2007. URL: https://www.springer.com/us/book/9780387279749

[5] Kochemirovskiy V. A. "Defekti kristalIchnoYi strukturi napIvprovIdnikovih materIalIv," VidavnichIy dIm SPGU., 2013. URL: goo.gl/P7pCgF

[6] Polyakova A. L. "DeformatsIya napIvprovIdnikIv I napIvprovIdnikovih pristroyiv," Moskva, EnergIya., 1979. URL: https://www.twirpx.com/file/560929/

[7] Brotherton S. D. "Introduction to Thin Film Transistors: Physics and Technology of TFTs," Switzerland, Springer., 2013. URL: http://haa.su/FZv/

[8] Rudolf F. G. "Modern Dictionary of Electronics," Melborne, Newnes., 1999. URL: goo.gl/cYTqAp

[9] Metod Kelvina [Online], Avalible:http://shemabook.ru/kelvina-4-provodnoy-izmereniya-soprotivleniya. [Accessed: 09-Feb-2019].

[10] Widmann D. "Technology of Integrated Circuits," Berlin, Springer., 2000. URL: goo.gl/vXaxhs