гру 30, 2020 Мікросистеми та фізична електроніка

Вимірювання п’єзоелектричних  характеристик діодних структур  на векторному аналізаторі «Обзор-103»

ОЦ
Олексій Сергійович Цибульський Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського»
ВК
Владислав А. Клименко Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського»
ТС
Тетяна Вікторівна Семикіна ІФН ім. В. Є. Лашкарьова НАН України
Сторінки5-9 Опублікованогру 30, 2020 ЛіцензіяВідкритий доступ
pdf

Анотація

В роботі наведено результати дослідження напівпровідникових плівкових гетеро структур CdS-Cu2S  та CdS-ZnS-Cu2S методом резонансу-антирезонансу. Виміри амплітудно-частотних характеристик було виконано за допомогою векторного аналізатору «Обзор-103». Викладена методика дослідження з використанням векторного аналізатору «Обзор-103». На основі визначених значень частот резонансу та антирезонансу зроблено розрахунки добротності досліджених гетеро структур та величини ємностей. Найбільші значення добротностей (~62) отримано для гетеро структури CdS-ZnS-Cu2S. Проведено аналіз отриманих результатів. 

Ключові слова

Ліцензія

CCBY 4.0
Creative Commons Із зазначенням авторства 4.0 Міжнародна

Ця робота має відкриту ліцензію: вільно поширюйте та адаптуйте її, посилаючись на авторів і журнал. Умови ліцензії ↗

Статті цього автора (цих авторів), які найбільше читають

Схожі статті

Ви також можете розпочати розширений пошук схожих статей для цієї статті.