лют 28, 2019 Електронні системи та сигнали

Вимірювальний стенд для дослідження  впливу неоднорідної деформації  на компоненти біполярних ІМС

МЗ
Максим Олегович Зилевич Національний технічний університет України «Київський політехнічний інститут імені Ігоря Сікорського»
Сторінки21-25 Опублікованолют 28, 2019 ЛіцензіяВідкритий доступ
pdf

Анотація

У роботі спроектовано стенд для дослідження впливу неоднорідної деформації на компоненти біпо лярних ІМС. Даний стенд призначений для вимірювання опору кремнієвих резисторів, вольт-амперних характеристик діодів та транзисторів під дією відомої неоднорідної деформації з відображенням отриманої інформації на екран персонального комп’ютера для подальшої обробки. Стенд дозволяє регулювати тиск у широкому діапазоні та є універсальним для вимірювання електричних характеристик різних компонентів мікросхем. 

Ключові слова

Ліцензія

CCBY 4.0
Creative Commons Із зазначенням авторства 4.0 Міжнародна

Ця робота має відкриту ліцензію: вільно поширюйте та адаптуйте її, посилаючись на авторів і журнал. Умови ліцензії ↗

Схожі статті

1-10 з 40

Ви також можете розпочати розширений пошук схожих статей для цієї статті.